ASTM B 822-1997 用光散射作金属粉末和相关化合物的粒度分布测试的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 20:27:55   浏览:8123   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforParticleSizeDistributionofMetalPowdersandRelatedCompoundsbyLightScattering
【原文标准名称】:用光散射作金属粉末和相关化合物的粒度分布测试的标准试验方法
【标准号】:ASTMB822-1997
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光散射测量;粒度分布;金属粉末
【英文主题词】:particlesizedistribution;metallicpowders;lightscattermeasurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:H70
【国际标准分类号】:19_120
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Integratedfilmcircuits;substrates
【原文标准名称】:胶片集成电路.第1部分:基质
【标准号】:DIN41850-1-1986
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1986-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:薄膜电路;衬底(绝缘);玻璃;公差;电气工程;材料;规范(审批);粗糙度;尺寸;特性;陶瓷;集成电路;材料强度;检验
【英文主题词】:dimensions;specification(approval);roughness(surface);integratedcircuits;properties;glass;filmcircuits;substrates(insulating);ceramics;tolerances(measurement);electricalengineering;materials;inspection;strengthofmaterials
【摘要】:Thisstandardcomprisesthetechnicalvaluesandtestsforceramicsubstratesforintegratedthickfilmcircuitsaswellasthoseforceramicandglasssubstratesforintegratedthinfilmcircuits.
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:德语


MIL-DTL-24308E (SUPPLEMENT 1), DETAIL SPECIFICATION: CONNECTORS, ELECTRIC, RECTANGULAR, NON-ENVIRONMENTAL, MINIATURE, POLARIZED SHELL, RACK AND PANEL, GENERAL SPECIFICATION FOR (07 NOV 2001)., This supplement forms a part of MIL-DTL-24308E, dated 2 November 1999.